| 是否进口：否 | 产地：英国 | 加工定制：是 |
| 类型：激光干涉仪 | 品牌：Renishaw | 型号：XL-80 |
| 订货号：XL-80 | 货号：XL-80 | 品种：激光干涉仪 |
| 测量范围：0-4m | 测量分辨率：1nm | 最近工作距离：1mm |
| 用途：1 | 是否跨境货源：否 |
高控科技 Renishaw激光测试仪 高精度测量干涉仪 规格报价
给设备制造商带来的好处： ·在制造过程中对机器进行测试和诊断； ·建造精度更高的机器； ·改进机器设计； ·减少机器制造周期时间； ·提供专业的维护服务； ·证明符合规范。
给设备制造商带来的好处： ·在制造过程中对机器进行测试和诊断； ·建造精度更高的机器； ·改进机器设计； ·减少机器制造周期时间； ·提供专业的维护服务； ·证明符合规范。
激光干涉测量 使用光的波长作为测量单位的基本原理在19世纪80年代左右开始提出。从 那以后起，这一原理虽然历经发展和完善，但始终以测量光波干涉为依据，因此 得名“干涉测量”。 激光系统射出的光波具有三种主要特性： ·已知***波长，可实现准确测量； ·波长非常短，可实现***或高分辨率测量； ·所有光波相位相同，可根据已知的基准进行测量。 干涉测量是一种相对运动测量（从初始位置开始测量），而不是一种绝队测量（从特定位置开始测量）。不同的光学镜组将激光光束穿过不同的路径，可从单个激光装置进行多种模式测量（例如，线性、角度、直线度）。
