| 是否进口：否 | 产地：英国 | 加工定制：是 |
| 类型：激光干涉仪 | 品牌：Renishaw | 型号：XL-80 |
| 订货号：XL-80 | 货号：XL-80 | 品种：激光干涉仪 |
| 测量范围：0-4m | 测量分辨率：1nm | 最近工作距离：1mm |
| 用途：1 | 是否跨境货源：否 |
高控科技 Renishaw激光扫描干涉仪 便携式双频激光系统 现货供应
激光干涉测量 使用光的波长作为测量单位的基本原理在19世纪80年代左右开始提出。从 那以后起，这一原理虽然历经发展和完善，但始终以测量光波干涉为依据，因此 得名“干涉测量”。 激光系统射出的光波具有三种主要特性： ·已知***波长，可实现准确测量； ·波长非常短，可实现***或高分辨率测量； ·所有光波相位相同，可根据已知的基准进行测量。 干涉测量是一种相对运动测量（从初始位置开始测量），而不是一种绝队测量（从特定位置开始测量）。不同的光学镜组将激光光束穿过不同的路径，可从单个激光装置进行多种模式测量（例如，线性、角度、直线度）。
移动速度：4m/s 激光稳频精度:±0.05 ppm 测量精度：±0.5 ppm 测量长度范围：0-80m 分辨率：0.001um。 轴向量程0-15m 角度精度：±0.002A ±0.5 ±0.1M微弧度 角度精度（已校准）：±0.0002A ±0.5 ±0.1M微弧度 分辨率：0.1 μm/m 轴向量程 ：（短距离）0.1 m - 4.0 m （长距离）1 m - 30 m 直线度测量范围：±2.5 mm
校准是过程控制的基础 现代工业需要满足日益严格的公差、客户计划以及国际质量标准的要求。与此同时，还要承受降低成本的压力，因此生产设备的工作性能受到的重视。测量和校准设备可提供帮助。
